影响测试探针寿命的最大因素是什么呢？

 PCB顶针、ICT测试探针、BGA探针、高频探针、大电流探针的统一的叫法都叫测试探针，无论什么测试探针都会有自己的测试寿命，测试探针的图册上一般都有自己的寿命，影响测试探针寿命的最大因素还取决于测试探针的弹簧。

那么影响测试探针寿命的因素都有哪些呢？这里华荣华为大家简要介绍一下，影响测试探针寿命的因素。

一、测试探针的测试环境
　　先说常规ICT/FCT探针，这类测试探针通常测试寿命在30万次左右，但是寿命往往都是由测试环境决定的，如果测试环境比较差，各种杂质进入测试探针内管，就会造成探针弹簧损坏，这样就必须要更换测试探针。这种是小部分更换，还有一种是定期对探针进行更换，当使用到一定的时间后，探针就必须要更换。如果是高频探针的话，这个比较特殊，高频探针主要在于高频针的内芯针，所以高频探针更换一般都是将内芯针进行更换，这样可大大降低成本。

二、测试探针的维护和保养
　　正常情况下，越细的探针相对来说就越短，所以正常探针的寿命都是接近于厂商给出的理论寿命。对治具维护保养做的好，以及治具测试的板子的清洁度高，按照探针规定的行程进行测试，这样探针的更换频次就低。