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界面探针是一种用于测试电子设备和半导体芯片等的非标准测试配件，以下是其详细介绍：
1. 基本信息
别名：界面针、平头导电针、平面接触针等。
2. 产品特点
- 定制化程度高：通常是为少数做大型测试机台的客户定做的，用于测试机台与测试夹具的接触点和面，以满足特定设备和应用的需求。
- 高精度：在测试过程中能够准确地测量和传输信号，保证测试结果的准确性和可靠性。
- 低阻抗：可以有效减少信号传输过程中的能量损失，提高测试效率和精度。
3. 应用领域
- 半导体芯片检测：对于半导体芯片，界面探针可用于测试芯片的电气性能、引脚连接等，是半导体产业链中不可或缺的检测工具之一。如在芯片封装前后的测试过程中，通过界面探针对芯片的引脚进行精确接触，检测芯片的电学参数是否符合规格要求。
4. 常见型号及参数
- 界面针 GR-1 3.0：材质为黄铜镀金，特性稳定，耐用性好，主要用于测试架治具测试使用。
- 界面针 HR-410：同样具有稳定的性能和良好的耐用性，适用于大型测试机台与测试夹具之间的精确连接以及各种电子设备的功能验证和测试尺寸总长为：17.78mm，针身直径:1.35mm，尾巴直径：0.64mm，头部直径：1.83mm。
综上所述，界面探针作为一种重要的测试工具，在电子设备和半导体芯片的测试领域发挥着关键作用，其定制化的特点使其能够满足不同客户的特定需求，确保产品的性能和质量。
