
测试探针卡顿怎么办
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测试探针是由针头、针管、探针弹簧组成。用户买回来的测试探针,
一、应先观察测试探针的套管是否弯曲;
二、观察测试探针的套管的镀金颜色;
二、先按压一下测试探针,看其弹簧是否卡顿
如出现上述问题时,应怎么解决呢?
一、当发现测试探针的套管弯曲时,应先挑出来,不要着急安装在机器上
二、发现测试探针的镀金颜色不好时、应立马与供应商联系
三、如已安装在机器上,发现测试时卡顿,不要再继续使用,与供应商联系,看是否退回来处理。
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测试探针是由针头、针管、探针弹簧组成。用户买回来的测试探针,
一、应先观察测试探针的套管是否弯曲;
二、观察测试探针的套管的镀金颜色;
二、先按压一下测试探针,看其弹簧是否卡顿
如出现上述问题时,应怎么解决呢?
一、当发现测试探针的套管弯曲时,应先挑出来,不要着急安装在机器上
二、发现测试探针的镀金颜色不好时、应立马与供应商联系
三、如已安装在机器上,发现测试时卡顿,不要再继续使用,与供应商联系,看是否退回来处理。
探针测试行业发展趋势(1)设备将向高精度化方向发展现阶段半导体器件主要通过提高集成度的方式实现更多功能或更快响应。为此,半导体制造过程一般会缩小器件特征尺寸,如高端逻辑芯片的电路制程线宽已由微米级别缩小至纳米级别,最小已达3纳米;在光电芯片中,最小的Micro LED尺寸也已经缩小至50μm以下。此外,为避免器件集成度提高后单位制造成本过度上涨,业界一般使用更大尺寸的晶圆,通过在单片晶圆片上制造更多的芯片并提高边缘区域使用率的方法降低单位制造成本,目前主流晶圆尺寸已从4英寸、6英寸,逐步发展到8英寸和12英寸。
2022-05-30