PAM75-J1探针的具体介绍

PAM75-J1探针是一款高精度、高可靠性的测试探针，广泛应用于电子制造和半导体测试领域，以下是对PAM75-J1探针的具体介绍：

1. 产品概述

基本参数：PAM75-J1探针属于PM75系列，其针管由磷铜制成并镀金，弹簧部分采用不锈钢线，套管为黄铜管镀金，这种设计确保了探针的高导电性和耐用性。

尺寸规格：该探针的总长度为27.8mm，直径为1.02mm，钻孔尺寸为1.4mm，这些规格使其适用于多种测试环境，特别是高密度电路板的测试。

2. 技术特点

额定电流与接触电阻：PAM75-J1探针的额定电流为3安培，接触电阻为50毫欧姆，这意味着它在高电流条件下仍能保持低电阻，确保测试的准确性和稳定性。

接触弹力：该探针的接触弹力为120g，这一适中的弹力能够有效保证与被测点的稳定接触，同时避免对被测器件造成损伤。

3. 应用领域

电子制造：在电子制造业中，PAM75-J1探针广泛用于PCB板的ICT测试，帮助检测开路、短路及元件缺失等问题。

半导体行业：由于其高精度和高可靠性，PAM75-J1探针也常用于半导体芯片的老化测试和功能验证。

4. 市场优势

品牌信誉：PAM75-J1探针由知名品牌生产，产品质量有保障，市场认可度高。

全球供应：该产品支持全球发货，提供多种支付方式，方便用户购买和使用。

5. 未来展望

技术创新：随着电子技术的不断进步，PAM75-J1探针将继续进行技术升级，以满足更高的测试要求和更广泛的应用场景。

市场需求增长：预计未来几年，全球对高精度测试探针的需求将持续增长，PAM75-J1探针的市场前景广阔。

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